心脏植入式电子设备的废弃导线对于 MRI 的安全性如何？

随着 MRI 技术不断发展，指导使用该设备的安全标准普遍缺乏。这使得患者和技术人员难以确定是否可以安全地进行检查，尤其是当患者使用较旧的植入式设备时。

一般来说，心脏植入式电子设备 (CIED) 等设备长期以来一直被认为是 MRI 环境中的安全风险。但当这些设备被移除或更换为新设备并留下导线和/或导线碎片时，这些风险是否仍然存在，人们知之甚少。许多新设备都适合 MRI 检查，但大多数传统设备都不适合，因此人们不禁要问，在强磁场中，它们遗留的导线是否危险。

“由于 MRI 期间导线尖端发热的不可预测影响以及与 CIED 相关的风险，因此认为带有废弃导线或导线碎片的患者存在风险，”通讯作者、凤凰城 Banner 大学医学中心放射科和心脏病科的医学博士 Michael F. Morris 及其同事解释道。“尽管体外研究表明断裂或废弃导线的长度和方向会导致 MRI 期间发热，但临床环境中的影响尚未报告。此外，尚不清楚废弃导线或导线碎片的长度和方向是否会影响接受 MRI 的患者的 CIED 功能。”

为了更好地了解废弃导线是否会带来额外风险，专家们审查了 2014 年 3 月至 2020 年 7 月期间接受 1.5 T MRI 检查的 CIED 和废弃导线或导线碎片患者的病历（共计 126 例）。分析了检查期间和检查后长达 30 天内的不良临床事件，以及 CIED 设置的变化，例如复合阈值捕获、感知和导线阻抗。